我們上周更新了針對(duì)PCIe5.0, CXL, NVMe, NAND, DDR5, UFS4測(cè)試技術(shù)和工具白皮書，該白皮書總計(jì)約902頁(yè)，涉及PCIe5.0, CXL, NVMe, NAND, DDR5, UFS4等相關(guān)總線技術(shù)在測(cè)試方面的最新進(jìn)展，方便大家查閱。下面是新版的目錄簡(jiǎn)介。

Chapter 1：Saniffer開放實(shí)驗(yàn)室Open Lab介紹，包括可提供的測(cè)試產(chǎn)品和服務(wù)，合作實(shí)驗(yàn)室提供的針對(duì)PCIe Gen5 物理層和協(xié)議層CTS測(cè)試服務(wù)，以及相關(guān)培訓(xùn)錄像鏈接。

Chapter 2：PCIe/CXL Gen5協(xié)議分析儀原理、當(dāng)前面臨的挑戰(zhàn)介紹，以及業(yè)內(nèi)最先進(jìn)的Gen5協(xié)議分析儀的架構(gòu)和創(chuàng)新功能，尤其是在信號(hào)質(zhì)量，解碼性能和LTSSM分析等方面的創(chuàng)新；這些創(chuàng)新功能提供了業(yè)內(nèi)開發(fā)CPU, GPU, DPU, AI卡，加速卡等各類板卡以及SSD的公司，包括各類服務(wù)器、存儲(chǔ)系統(tǒng)等研發(fā)中心在實(shí)際診斷PCIe Gen5問題過程中解決最頭疼問題的有利武器，解決了傳統(tǒng)PCIe Gen5分析儀由于信號(hào)問題無(wú)法使用、解碼耗時(shí)極長(zhǎng)，LTSSM初始化問題分析不直觀等各種問題。另外，也介紹了Broadcom公司PCIe Gen5 switch芯片內(nèi)部集成的協(xié)議抓包分析功能。

Chapter 3：全球業(yè)內(nèi)應(yīng)用最廣泛的PCIe Gen5 SSD研發(fā)測(cè)試工具介紹，涉及消費(fèi)類SSD和企業(yè)級(jí)SSD的重點(diǎn)關(guān)注的功能的測(cè)試介紹，涉及上千個(gè)測(cè)試腳本。

Chapter 4：介紹了針對(duì)各類企業(yè)級(jí)PCIe Gen5 SSD的熱插拔，各類從物理層和鏈路層的故障注入測(cè)試，功耗分析，電壓拉偏，電壓/電流/功耗和邊帶sideband信號(hào)的高分辨率（例如4us,8us, 16us直至1ms, 10ms到秒級(jí)的采樣率）、長(zhǎng)時(shí)間（例如分鐘級(jí)、小時(shí)、天、星期）的記錄、回溯功能。當(dāng)然，對(duì)于消費(fèi)類M.2 SSD或者各類插卡，除了不支持熱插拔之外，上述的其它測(cè)試功能也均適用。

Chapter 5：搭建PCIe Gen5測(cè)試環(huán)境必備的產(chǎn)品（一）：Gen5 switch卡，retimer卡，測(cè)試盤柜，轉(zhuǎn)接卡，轉(zhuǎn)接線，延長(zhǎng)線等。

Chapter 6：搭建PCIe Gen5測(cè)試環(huán)境必備的產(chǎn)品（二）：介紹了業(yè)內(nèi)目前市場(chǎng)上絕大部分的Gen5 Intel和AMD工作站和服務(wù)器，方便日常速查使用，也包括針對(duì)企業(yè)級(jí)Kioxia Gen5 SSD CD8, CM7和Samsung Gen5 PM1743 SSD的介紹，以及基于Phison E26 Gen5 M.2 SSD的介紹和評(píng)測(cè)報(bào)告。另外也順帶介紹了如何擴(kuò)展更多SSD端口進(jìn)行測(cè)試，以及用于溫箱內(nèi)部的PCIe Gen5測(cè)試背板。

Chapter 7：這部分介紹了針對(duì)800MT/1.6GT/2.4GT NAND，DDR5/LPDDR5特性測(cè)試，協(xié)議分析和診斷，顆粒篩選，以及連接示波器和邏輯分析儀使用的各類interposer，socket，test board等等。

Chapter 8：國(guó)外、國(guó)內(nèi)常見測(cè)試溫箱的典型架構(gòu)和功能簡(jiǎn)介

Chapter 9：日常測(cè)試使用的各類開放式主板托架、實(shí)驗(yàn)室內(nèi)部使用的機(jī)架的介紹。

Chapter 10：介紹了目前消費(fèi)類手機(jī)和汽車電子上常用的UFS 3.0/4.0以及eMMC 5.1協(xié)議分析設(shè)備。

Chapter 11：收錄了Wikipedia關(guān)于PCIe, NVMe, CXL, DDR, UFS, NAND的速查資料，結(jié)合協(xié)議分析儀抓取數(shù)據(jù)分析介紹了PCIe和NVMe SSD的初始化過程，NVMe&UFS解讀，PCIe協(xié)議底層雜談，以及NVMe各種接口簡(jiǎn)介，CXL技術(shù)基礎(chǔ)和應(yīng)用場(chǎng)景，PCIe Gen5 reimter技術(shù)簡(jiǎn)介等。

Chapter 12：實(shí)驗(yàn)室常用PCIe Gen 5 Switch卡，retimer卡，CXL內(nèi)存擴(kuò)展卡，轉(zhuǎn)接卡，轉(zhuǎn)接線，延長(zhǎng)線圖解速查，含圖片，型號(hào)，描述，方便日常查詢。

Chapter 13：簡(jiǎn)介了我們?cè)赑CIe Gen4/5方面的定制開發(fā)能力，可以結(jié)合客戶的需求定制開發(fā)滿足測(cè)試需求的各類Gen5工具和測(cè)試治具。

該白皮書pdf文件大小78M，需要的朋友，可以通過下面幾種方式獲取該白皮書：

1.百度網(wǎng)盤下載

白皮書下載鏈接: https://pan.baidu.com/s/1FSc8LBTKM3aGr3FZ6nvhrQ?pwd=xcb3

2.Saniffer官方網(wǎng)站下載（可能訪問速度較慢）

https://www.saniffer.com/中文/文檔下載/

3.如果你對(duì)該白皮書里面的某些主題感興趣，或者希望在后續(xù)的版本增加某些技術(shù)或者產(chǎn)品，請(qǐng)或者點(diǎn)擊“閱讀原文”留言給我們?；蛘邟呙柘旅娴亩S碼聯(lián)系我們并獲取文檔。

審核編輯 ：李倩