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先進(jìn)封裝中的TSV分類及工藝流程

深圳市賽姆烯金科技有限公司 ? 來源:半導(dǎo)體小馬 ? 2025-07-08 14:32 ? 次閱讀
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來源:半導(dǎo)體小馬

前面分享了先進(jìn)封裝的四要素一分鐘讓你明白什么是先進(jìn)封裝,今天分享一下先進(jìn)封裝中先進(jìn)性最高的TSV。

TSV(Through - Silicon Via,硅通孔)是先進(jìn)封裝技術(shù)中的一種關(guān)鍵垂直互連技術(shù)。它通過在芯片內(nèi)部打通通道,實(shí)現(xiàn)電氣信號(hào)的垂直傳輸,可顯著提高芯片之間的數(shù)據(jù)傳輸效率,減少信號(hào)延遲,降低功耗,并提升封裝的集成密度。

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一、工作原理

基于硅片中的深孔刻蝕技術(shù),先在硅片中打孔,再填充銅等導(dǎo)電材料形成電氣連接。這些通孔貫穿整個(gè)芯片厚度,可將不同芯片層或同一芯片內(nèi)的不同電路相互連接,作為芯片與芯片、芯片與封裝基板、以及芯片內(nèi)部不同電路層之間的高效電氣通道。

二、分類

2.5D封裝中的TSV:通常用于中介層(Interposer)。中介層是帶有 TSV 的載體,可承載多個(gè)芯片,如處理器和內(nèi)存等,芯片通過 TSV 在中介層上互連,而非直接堆疊,主要應(yīng)用于高性能計(jì)算和數(shù)據(jù)中心芯片等需要高度互連和高帶寬的系統(tǒng)。

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3D 封裝中的 TSV:實(shí)現(xiàn)了芯片的垂直堆疊,每個(gè)芯片層通過 TSV 直接相互連接,形成一個(gè)整體,能讓不同功能模塊,如處理器和內(nèi)存高度集成在同一個(gè)封裝中,提高芯片集成密度和性能,同時(shí)減小封裝尺寸。

Via-last TSV:TSV制作可以集成到生產(chǎn)工藝的不同階段,通常放在晶圓制造階段為Via-first,封裝階段為Via-last(該方案可以不改變現(xiàn)有集成電路流程和設(shè)計(jì),目前業(yè)界已開始在高端的Flash和DRAM領(lǐng)域采用Via-last技術(shù),即在芯片周末進(jìn)行硅通孔的TSV制作,然后進(jìn)行芯片或晶圓層疊。

Via-middle(中通孔)封裝工藝:首先在晶圓制造過程中形成通孔,隨后在封裝過程中,于晶圓正面形成焊接凸點(diǎn)。之后將晶圓貼附在晶圓載片上并進(jìn)行背面研磨,在晶圓背面形成凸點(diǎn)后,將晶圓切割成獨(dú)立芯片單元,并進(jìn)行堆疊。

三、工藝流程

中通孔基本工序:首先在晶圓上制作晶體管,隨后使用硬掩模在硅通孔形成區(qū)域繪制電路圖案,之后利用干刻蝕工藝去除未覆蓋硬掩膜的區(qū)域,形成深槽;再利用CVD工藝制備絕緣膜(用于隔絕填入槽中的銅等金屬物質(zhì),防止硅片被金屬物質(zhì)污染);此外絕緣層上還將制備一層金屬薄層(將被用于電鍍銅層)作為屏障;電鍍完成后,采用CMP技術(shù)使晶圓表面保持平滑,同時(shí)清除其表面銅基材,確保銅基材只留在溝槽中。

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原文標(biāo)題:先進(jìn)封裝四要素中先進(jìn)性最高的TSV分類及工藝流程介紹

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