動態(tài)
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BYO、FPGA開發(fā)板與商用,一文詳解各類原型驗證
幾十年來,數(shù)字芯片設計復雜度不斷攀升,使芯片驗證面臨資金與時間的巨大挑戰(zhàn)。在早期,開發(fā)者為了驗證芯片設計是否符合預期目標,不得不依賴于耗時的仿真結果或是等待實際芯片生產(流片)的成果。無論是進行多次仿真模擬還是面臨流片失敗,都意味著巨大的時間和金錢成本。隨著EDA(電子設計自動化)驗證工具的重要性日益增加,開發(fā)者開始尋求減少流片成本和縮短開發(fā)周期的方法。其中1.1k瀏覽量