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伴隨著SOC技術(shù)的發(fā)展，自動(dòng)布局布線(xiàn)規(guī)模不斷擴(kuò)大，同時(shí)產(chǎn)品的上市周期由于市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)的加劇壓力也愈來(lái)愈大。因此，如何提高自動(dòng)布局布線(xiàn)設(shè)計(jì)中寄生參數(shù)驗(yàn)證的效率成為眾多IC設(shè)計(jì)者必須要考慮的重要課題。
通過(guò)引入calibre DRC/LVS/XRC，vimicro已經(jīng)發(fā)展了一套提高自動(dòng)布局布線(xiàn)設(shè)計(jì)驗(yàn)證效率的方法，這些方法包括GDSII文件的直接處理，使用gate-level寄生參數(shù)抽取來(lái)滿(mǎn)足數(shù)字電路的時(shí)序分析驗(yàn)證，以及修改相應(yīng)的文件來(lái)加速寄生參數(shù)的抽取等。
伴隨著SOC技術(shù)的發(fā)展，自動(dòng)布局布線(xiàn)規(guī)模不斷擴(kuò)大，同時(shí)產(chǎn)品的上市周期由于市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)的加劇壓力也愈來(lái)愈大。因此，如何提高自動(dòng)布局布線(xiàn)設(shè)計(jì)中寄生參數(shù)驗(yàn)證的效率成為眾多IC設(shè)計(jì)者必須要考慮的重要課題。
通過(guò)引入calibre DRC/LVS/XRC，vimicro已經(jīng)發(fā)展了一套提高自動(dòng)布局布線(xiàn)設(shè)計(jì)驗(yàn)證效率的方法，這些方法包括GDSII文件的直接處理，使用gate-level寄生參數(shù)抽取來(lái)滿(mǎn)足數(shù)字電路的時(shí)序分析驗(yàn)證，以及修改相應(yīng)的文件來(lái)加速寄生參數(shù)的抽取等。
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