??????? 本文首先介紹RVM驗(yàn)證方法學(xué)和覆蓋率驅(qū)動(dòng)技術(shù)，然后詳細(xì)分析如何使用結(jié)合覆蓋率驅(qū)動(dòng)技術(shù)的RVM驗(yàn)證方法學(xué)對(duì)SOC(System On Chip)進(jìn)行完備的功能驗(yàn)證, 最后探討如何利用此方法學(xué)提高驗(yàn)證的效率。
關(guān)鍵詞：
SOC, 被驗(yàn)證模塊，功能模塊，RVM驗(yàn)證方法學(xué), RVM驗(yàn)證平臺(tái)，覆蓋率驅(qū)動(dòng)
???????? 隨著SOC 設(shè)計(jì)復(fù)雜度的不斷提高和設(shè)計(jì)規(guī)模的不斷增大，驗(yàn)證已成為SOC 設(shè)計(jì)的瓶頸。由于驗(yàn)證的不充分，流片后的芯片中可能存在致命缺陷，從而增加了設(shè)計(jì)的風(fēng)險(xiǎn)和設(shè)計(jì)重流片的成本。因此驗(yàn)證越來(lái)越受到重視[5]。
在驗(yàn)證過(guò)程中，驗(yàn)證方法學(xué)扮演越來(lái)越重要的角色，高效的驗(yàn)證方法學(xué)可以提高驗(yàn)證的
效率，加快驗(yàn)證的進(jìn)程。傳統(tǒng)的驗(yàn)證方法學(xué)對(duì)于驗(yàn)證復(fù)雜的設(shè)計(jì)已經(jīng)顯得力不從心，如何用最少的時(shí)間最少的物力去盡可能多的發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)中存在的缺陷，需要引入新的驗(yàn)證方法學(xué)。目前，RVM（Reference Verification Methodology）驗(yàn)證方法學(xué)脫穎而出，它是基于分層結(jié)構(gòu)驗(yàn)證方法學(xué)，通過(guò)將驗(yàn)證平臺(tái)分成功能不同的幾個(gè)層面，提高驗(yàn)證平臺(tái)的重用性和抽象層次，更好的支持了激勵(lì)隨機(jī)產(chǎn)生，結(jié)果自動(dòng)檢查，覆蓋率驅(qū)動(dòng)等技術(shù)。覆蓋率是驗(yàn)證的核心。通過(guò)對(duì)覆蓋率分析，才能確定驗(yàn)證平臺(tái)是否對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行了完備的驗(yàn)證。覆蓋率達(dá)到了我們預(yù)期的目標(biāo)是驗(yàn)證是否完成的重要量化標(biāo)準(zhǔn)之一。覆蓋率驅(qū)動(dòng)技術(shù)是指以覆蓋率的提高為目的來(lái)引導(dǎo)編寫高效的測(cè)試?yán)蜏y(cè)試平臺(tái)。
??????? 因此結(jié)合覆蓋率驅(qū)動(dòng)技術(shù)的RVM 驗(yàn)證方法學(xué)應(yīng)用于SOC 的驗(yàn)證過(guò)程中，將大大提高驗(yàn)證的效率。