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標(biāo)簽 > 半導(dǎo)體測(cè)試
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造、晶圓測(cè)試、芯片封裝和封裝后測(cè)試組成。半導(dǎo)體封裝測(cè)試是指將通過(guò)測(cè)試的晶圓按照產(chǎn)品型號(hào)及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過(guò)程。
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利用?NI?半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)?(STS)?軟件?的?增強(qiáng)?功能,?加速?測(cè)試?程序?開(kāi)發(fā),?提高?運(yùn)營(yíng)?
國(guó)家儀器該公司于今日推出了STS軟件的最新增強(qiáng)功能,這些功能可顯著提升NI半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)的編程和調(diào)試體驗(yàn),并大大提高測(cè)試執(zhí)行速度、并行測(cè)試效率和整體設(shè)備效率。
2019-10-14 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試?NI 1431 0
本視頻主要介紹了半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備,分別有橢偏儀、四探針、熱波系統(tǒng)、相干探測(cè)顯微鏡、光學(xué)顯微鏡以及掃描電子顯微鏡。
2018-11-02 標(biāo)簽:半導(dǎo)體半導(dǎo)體測(cè)試 2.7萬(wàn) 0
電源紋波測(cè)試在電源質(zhì)量檢測(cè)中是很重要的一項(xiàng)參數(shù)。由于直流穩(wěn)壓電源一般是由交流電源經(jīng)整流、濾波、穩(wěn)壓等環(huán)節(jié)而形成的,這就不可避免地在直流電壓中多少帶有一些...
2016-04-07 標(biāo)簽:測(cè)試測(cè)量示波器紋波 7.7萬(wàn) 0
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