不同制造商TOPCon光伏組件的老化測試：性能、穩(wěn)定性與可靠性

隨著TOPCon技術(shù)市場份額的快速增長，對其可靠性評估需求迫切。盡管早期報告認為TOPCon比PERC更可靠，但該技術(shù)在光伏組件可靠性方面經(jīng)驗不足，仍存...

2024-12-05 標(biāo)簽：測試檢測設(shè)備光伏組件 1542 0

WLAN MIMO測試

CMW500/CMW270在WLAN測試方面非常強，如：射頻測試、應(yīng)用層吞吐量測試等。本文用一臺CMW做2x2MIMO測試，儀器設(shè)備的要求至少包含1*B500

2024-12-05 標(biāo)簽：WLAN測試MIMO 523 0

示波器的觸發(fā)功能（上）

示波器的觸發(fā)功能在正確的信號點同步水平掃描，這對清楚地檢定信號至關(guān)重要。觸發(fā)控制功能可以穩(wěn)定重復(fù)的波形，捕獲單次波形。通過重復(fù)顯示輸入信號的同一部分觸發(fā)...

2024-12-05 標(biāo)簽：測試示波器顯示屏 753 0

LED光源抗硫化實驗

在照明技術(shù)迅速發(fā)展的今天，LED光源憑借其高效率、耐用性和環(huán)境友好性，已成為市場上的主流選擇。盡管如此，LED光源在實際應(yīng)用中仍面臨諸多挑戰(zhàn)，尤其是硫化...

2024-12-04 標(biāo)簽：led測試光源 1703 0

什么是RoHS測試？

RoHS，全稱為《電氣、電子設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》，是一個旨在限制電子電氣產(chǎn)品中特定有害物質(zhì)使用的法規(guī)。歐盟于2006年7月1日實施了RoHS...

2024-12-04 標(biāo)簽：測試電氣RoHS 1589 0

Wi-Fi 7 4X4 MIMO測試解決方案

按照下圖搭建測試環(huán)境，被測件的四根天線，一根要選第一臺CMP180上面第一排射頻端口進行連接，第二根要選下面第二排射頻端口進行連接，依次類推，分別接到4...

2024-12-03 標(biāo)簽：測試射頻MIMO 1395 0

金屬方塊電阻的測試條件

CMOS 工藝平臺的金屬方塊電阻的測試結(jié)構(gòu)包含該平臺的所有金屬層，例如如果該平臺使用五層金屬層，那么金屬方塊電阻的測試結(jié)構(gòu)就有第一層金屬（M1）方塊電阻...

2024-12-03 標(biāo)簽：CMOS電阻測試 761 0

鍵合絲焊接質(zhì)量控制說明

本文重點圍繞焊點機械性能指標(biāo)的測試方法和判定標(biāo)準(zhǔn)，介紹了焊點測試、過程能力指數(shù)以及焊接不良的分析。 ? 鍵合絲焊接質(zhì)量控制鍵合絲焊接質(zhì)量的控制需綜合考慮...

2024-12-03 標(biāo)簽：測試焊接焊點 763 0

什么是高低溫濕熱試驗（THB）？

濕熱試驗概述濕熱試驗是環(huán)境工程領(lǐng)域中一種關(guān)鍵的測試方法，通過在控制的高溫和高濕環(huán)境下對產(chǎn)品進行暴露，以評估產(chǎn)品在實際使用中對潮濕環(huán)境的適應(yīng)性和耐久性。這...

2024-12-02 標(biāo)簽：測試恒定濕熱試驗濕熱試驗 1331 0

FIB測試技術(shù)

聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術(shù)是一種精密的微納加工手段，它通過將離子束聚焦到極高的精度，實現(xiàn)對材料的精確蝕刻和加工。FIB技...

2024-12-02 標(biāo)簽：測試fib離子束 797 0

Poly方塊電阻的測試條件

CMOS工藝平臺的Poly 方塊電阻有四種類型的電阻，它們分別是n型金屬硅化物 Poly 方塊電阻、P型金屬硅化物 Poly 方塊電阻、n 型非金屬硅化...

2024-11-29 標(biāo)簽：CMOS電阻測試 1697 0

PW方塊電阻的測試條件

圖5-34所示為PW方塊電阻的版圖，圖5-35所示為它的剖面圖。PW方塊電阻是通過DNW 隔離襯底（P-sub），如果沒有DNW的隔離，這個PW 方塊電...

2024-11-29 標(biāo)簽：電阻測試 686 1

淺談WAT測試類型

雖然 WAT測試類型非常多，不過業(yè)界對于 WAT測試類型都有一個明確的要求，就是包括該工藝技術(shù)平臺所有的有源器件和無源器件的典型尺寸。芯片代工廠會依據(jù)這...

2024-11-27 標(biāo)簽：CMOS測試工藝 1467 0

半導(dǎo)體快速溫變測試的溫度循環(huán)控制標(biāo)準(zhǔn)

半導(dǎo)體材料簡介半導(dǎo)體材料是一類具有介于導(dǎo)體和絕緣體之間的導(dǎo)電能力（電阻率在1mΩ·cm到1GΩ·cm之間）的材料，廣泛應(yīng)用于制造半導(dǎo)體器件和集成電路。根...

2024-11-27 標(biāo)簽：測試半導(dǎo)體IPC 598 0

輻射發(fā)射測試：深入解析TS-RadiMation套件多種操作方法（四）

Raditeq RadiMation?套件作為輻射發(fā)射測試的得力助手，支持多種測試方法。

2024-11-28 標(biāo)簽：測試天線輻射發(fā)射 508 0

一文詳解纖維器件電學(xué)測試方法

纖維器件是一種以纖維為基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)形態(tài)的功能性元件。

2024-11-26 標(biāo)簽：傳感器測試發(fā)光二極管 835 0

氣密測試解決方案---汽摩發(fā)動機

應(yīng)用背景發(fā)動機作為汽車和摩托車最關(guān)鍵的心臟部位，整體的安全性可想而知，作為汽車、摩托車發(fā)動機最必要的一環(huán)---氣密性檢測也是各個發(fā)動機生產(chǎn)廠家最為關(guān)注的...

2024-11-26 標(biāo)簽：發(fā)動機測試摩托車 623 0

WAT晶圓接受測試簡介

WAT是英文 Wafer Acceptance Test 的縮寫，意思是晶圓接受測試，業(yè)界也稱WAT 為工藝控制監(jiān)測（Process Control M...

2024-11-25 標(biāo)簽：芯片測試晶圓 1570 0

參考曲線狀態(tài)評估指南

在使用OSI系列設(shè)備進行應(yīng)變或溫度傳感測試時，取參考是尤為重要的一個步驟。參考曲線能為我們提供諸如光纖樣品鏈路狀態(tài)、長度等關(guān)鍵信息。因此，準(zhǔn)確理解參考曲...

2024-11-23 標(biāo)簽：測試光纖溫度傳感 679 0

循環(huán)腐蝕試驗（CCT）：一種評估材料耐久性的動態(tài)測試方法

鹽霧試驗的演變與應(yīng)用鹽霧試驗作為評估材料耐腐蝕性能的重要手段，其發(fā)展歷程體現(xiàn)了對自然環(huán)境模擬的不斷深入。從最初的恒定鹽霧測試，到噴霧-干燥循環(huán)，再到循環(huán)...

2024-11-23 標(biāo)簽：測試cct 692 0