高頻高速PCB測(cè)試解決方案

高頻高速PCB廣泛應(yīng)用于AI、高速通信、數(shù)據(jù)中心和消費(fèi)電子等領(lǐng)域。其性能的穩(wěn)定性和可靠性決定了整個(gè)系統(tǒng)的信號(hào)完整性和運(yùn)行效率。高速PCB產(chǎn)業(yè)鏈中的各環(huán)節(jié)...

2025-05-20 標(biāo)簽：pcb測(cè)試信號(hào) 762 0

什么是經(jīng)典？來看看電子測(cè)量“經(jīng)典三大件”

在電子工程師的視野中，有三款儀表被譽(yù)為探索射頻領(lǐng)域的“經(jīng)典三大件”，堪稱工程師們的必備法寶。它們分別是：信號(hào)發(fā)生器頻譜分析儀網(wǎng)絡(luò)分析儀他們不僅是實(shí)驗(yàn)室里...

2025-05-19 標(biāo)簽：測(cè)試無線通信信號(hào)發(fā)生器 297 0

如何進(jìn)行疲勞耐久測(cè)試？

在產(chǎn)品研發(fā)與質(zhì)量把控的關(guān)鍵環(huán)節(jié)中，疲勞耐久測(cè)試占據(jù)著舉足輕重的地位。它是評(píng)估產(chǎn)品在生命周期內(nèi)性能表現(xiàn)的核心手段，通過模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用中承受的各種復(fù)雜工...

2025-05-19 標(biāo)簽：測(cè)試試驗(yàn)機(jī)耐久性 180 0

使用UTS3000B系列頻譜分析儀進(jìn)行EMI預(yù)認(rèn)證測(cè)試

電磁兼容性（EMC）是指設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中符合要求運(yùn)行并不對(duì)其環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生無法忍受的電磁干擾的能力。EMC包括電磁干擾(EMI)和電磁抗干...

2025-05-16 標(biāo)簽：測(cè)試emi頻譜分析儀 304 0

選對(duì)探頭事半功倍：1G有源探頭vs1G無源探頭實(shí)測(cè)分析

在高速信號(hào)測(cè)試和測(cè)量領(lǐng)域，選擇合適探頭對(duì)獲取準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果至關(guān)重要。本文深入解析1GHz有源探頭和無源探頭的核心差異、應(yīng)用場(chǎng)景及實(shí)測(cè)性能對(duì)比，詳解面對(duì)高...

2025-05-16 標(biāo)簽：測(cè)試測(cè)量無源探頭 348 0

干貨｜抗干擾天線的性能怎么測(cè)試？

前幾個(gè)章節(jié)我們介紹了衛(wèi)星導(dǎo)航抗干擾天線的選型、抗干擾天線能不能同時(shí)做RTK差分的內(nèi)容?？垢蓴_天線選型指南，如何選擇滿足自己需求的抗干擾天線為什么自適應(yīng)調(diào)...

2025-05-14 標(biāo)簽：測(cè)試天線抗干擾 729 0

康謀分享 | 自動(dòng)駕駛仿真進(jìn)入“標(biāo)準(zhǔn)時(shí)代”：aiSim全面對(duì)接ASAM OpenX

自動(dòng)駕駛領(lǐng)域，仿真與標(biāo)準(zhǔn)接口至關(guān)重要?？抵\aiSim集成ASAM OpenX系列標(biāo)準(zhǔn)，通過OpenDRIVE、OpenSCENARIO等五大標(biāo)準(zhǔn)，全面優(yōu)...

2025-05-14 標(biāo)簽：測(cè)試科技算法 2866 0

半導(dǎo)體芯片需要做哪些測(cè)試

首先我們需要了解芯片制造環(huán)節(jié)做?款芯片最基本的環(huán)節(jié)是設(shè)計(jì)->流片->封裝->測(cè)試，芯片成本構(gòu)成?般為人力成本20%，流片40%，封裝3...

2025-05-09 標(biāo)簽：測(cè)試晶圓半導(dǎo)體芯片 1436 0

QDAT非信令測(cè)試介紹

高通WIFI6的IPQ系列芯片非信令測(cè)試常用的測(cè)試方法有兩種：QRCT（射頻調(diào)試工具）、QPSR（射頻校準(zhǔn)工具）。Chrent一、QPSR（射頻校準(zhǔn)工具...

2025-05-07 標(biāo)簽：芯片測(cè)試射頻 335 0

半導(dǎo)體存儲(chǔ)器測(cè)試圖形技術(shù)解析

在半導(dǎo)體存儲(chǔ)器測(cè)試中，測(cè)試圖形（Test Pattern）是檢測(cè)故障、驗(yàn)證可靠性的核心工具。根據(jù)測(cè)試序列長(zhǎng)度與存儲(chǔ)單元數(shù)N的關(guān)系，測(cè)試圖形可分為N型、N...

2025-05-07 標(biāo)簽：測(cè)試存儲(chǔ)器晶圓 287 0

【解決方案】降低導(dǎo)入成本，在現(xiàn)有電機(jī)檢測(cè)線上增設(shè)局部放電測(cè)試

電機(jī)生產(chǎn)工序與檢測(cè)在電機(jī)的生產(chǎn)工序中，會(huì)進(jìn)行諸如以下的測(cè)試：繞組安裝于定子鐵芯后的“定子繞組檢查”；連接繞組中性點(diǎn)，完成定子組裝后的“定子組件(ASSY...

2025-05-06 標(biāo)簽：測(cè)試電機(jī)局部放電 160 0

CAN芯片邏輯響應(yīng)驗(yàn)證測(cè)試

在CAN芯片研發(fā)階段，需要做諸多涉及通訊錯(cuò)誤管理驗(yàn)證的問題。在ISO-16845國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中，規(guī)定完善的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，如錯(cuò)誤幀檢測(cè)，傳輸幀相關(guān)檢測(cè)，錯(cuò)誤管理邏...

2025-04-30 標(biāo)簽：芯片測(cè)試CAN 229 0

《聊一聊ZXDoc》之汽車標(biāo)定、臺(tái)架標(biāo)定、三高標(biāo)定

ZXDoc支持XCP/CCP標(biāo)定功能，標(biāo)定工作貫穿主機(jī)廠與Tier1廠商汽車ECU研發(fā)、生產(chǎn)、測(cè)試的整個(gè)流程，是保障ECU性能達(dá)標(biāo)、功能穩(wěn)定的關(guān)鍵。什么...

2025-04-27 標(biāo)簽：測(cè)試汽車電子ecu 696 0

3800Ah大容量磷酸鐵鋰電池模組絕熱溫升特性測(cè)試揭秘

摘要本文利用BAC-1000A大型電池絕熱量熱儀對(duì)3800Ah小型磷酸鐵鋰電池模組的絕熱溫升行為進(jìn)行了系統(tǒng)性研究，填補(bǔ)了儲(chǔ)能電池模組絕熱溫升數(shù)據(jù)的行業(yè)空...

2025-04-27 標(biāo)簽：鋰電池測(cè)試電池 312 0

同模阻抗NG,怎樣處理

在測(cè)同一被測(cè)線材時(shí)，其阻抗會(huì)因在該被測(cè)線材上傳輸?shù)男盘?hào)型式不同，而分為單端阻抗，同模（共模）阻抗及差分阻抗，其差異主要表現(xiàn)在測(cè)試的信號(hào)條件上。故每種線均...

2025-04-24 標(biāo)簽：測(cè)試阻抗特性阻抗 332 0

薄膜穿刺測(cè)試：不同類型薄膜材料在模擬汽車使用環(huán)境下的穿刺性能

在汽車行業(yè)蓬勃發(fā)展的當(dāng)下，薄膜材料在汽車制造中的應(yīng)用愈發(fā)廣泛，從精致的內(nèi)飾裝飾薄膜，到關(guān)乎生命安全的安全氣囊薄膜，其性能優(yōu)劣直接左右著汽車的品質(zhì)與安全。...

2025-04-23 標(biāo)簽：測(cè)試汽車電子儀器 493 0

車載電子電器設(shè)備測(cè)試的全面解析

在當(dāng)今汽車行業(yè)，電子電器設(shè)備已經(jīng)成為汽車不可或缺的重要組成部分。從基本的照明、空調(diào)系統(tǒng)，到先進(jìn)的自動(dòng)駕駛輔助系統(tǒng)、智能互聯(lián)系統(tǒng)等，車載電子電器設(shè)備極大地...

2025-04-22 標(biāo)簽：測(cè)試車載電子電器設(shè)備 316 0

Altera 40G Ethernet IP環(huán)回測(cè)試教程

本文將詳細(xì)介紹如何在 Quartus 22.2 環(huán)境下，使用 Toolkit 和工程測(cè)試方法，對(duì) Altera 40G Ethernet IP 進(jìn)行環(huán)回...

2025-04-19 標(biāo)簽：測(cè)試AlteraIP 824 0

PCB互連應(yīng)力測(cè)試與溫度沖擊測(cè)試的區(qū)別

在當(dāng)今復(fù)雜且精密的PCB實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景中，確保其可靠性至關(guān)重要。互連應(yīng)力測(cè)試（IST）與溫度沖擊測(cè)試（TC）作為可靠性評(píng)估的常用手段，二者在測(cè)試對(duì)象、原理...

2025-04-18 標(biāo)簽：pcb測(cè)試可靠性測(cè)試 329 0

2025-04-17 標(biāo)簽：測(cè)試儀器高低溫試驗(yàn)箱 3470 0