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標(biāo)簽 > 測(cè)試
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專(zhuān)用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。
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FPGA的邏輯是通過(guò)向內(nèi)部靜態(tài)存儲(chǔ)單元加載編程數(shù)據(jù)來(lái)實(shí)現(xiàn)的,存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器單元中的值決定了邏輯單元的邏輯功能以及各模塊之間或模塊與I/O間的聯(lián)接方式,并最...
數(shù)字設(shè)計(jì)FPGA應(yīng)用:測(cè)試138工程
中國(guó)大學(xué)MOOC 本課程以目前流行的Xilinx 7系列FPGA的開(kāi)發(fā)為主線(xiàn),全面講解FPGA的原理及電路設(shè)計(jì)、Verilog HDL語(yǔ)言及VIVAD...
熱分析技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)及影響測(cè)試的因素有哪些
熱分析(TA)是指用熱力學(xué)參數(shù)或物理參數(shù)隨溫度變化的關(guān)系進(jìn)行分析的方法。國(guó)際熱分析協(xié)會(huì)于1977年將熱分析定義為:“熱分析是測(cè)量在程序控制溫度下,物質(zhì)的...
影響剝離強(qiáng)度的因素與剝離強(qiáng)度測(cè)試儀的使用介紹
剝離強(qiáng)度是指粘貼在一起的材料,從接觸面進(jìn)行單位寬度剝離時(shí)所需要的最大力。剝離時(shí)角度有90度或180度,單位為:牛頓/米(N/m)。它反映材料的粘結(jié)強(qiáng)度。...
硬度的分類(lèi)及硬度測(cè)試具有什么特點(diǎn)
所謂硬度,就是材料抵抗更硬物壓入其表面的能力。根據(jù)試驗(yàn)方法和適應(yīng)范圍的不同,硬度單位可分為布氏硬度、維氏硬度、洛氏硬度、顯微維氏硬度等許多種,不同的單位...
在測(cè)試導(dǎo)熱系數(shù)時(shí)需滿(mǎn)足哪些條件
導(dǎo)熱系數(shù)是指在穩(wěn)定傳熱條件下,1m厚的材料,兩側(cè)表面的溫差為1度(K,℃),在1秒內(nèi)(1s),通過(guò)1平方米面積傳遞的熱量,單位為瓦/米·度 (W/(m·...
熱重法的特點(diǎn)及在測(cè)試時(shí)的影響因素有哪些
熱重分析是指在程序控制溫度下測(cè)量待測(cè)樣品的質(zhì)量與溫度變化關(guān)系的一種熱分析技術(shù),用來(lái)研究材料的熱穩(wěn)定性和組分。TGA在研發(fā)和質(zhì)量控制方面都是比較常用的檢測(cè)...
設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的及設(shè)計(jì)要求
基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有符合規(guī)格以及焊性,比如說(shuō)想檢查一顆電路板上的電阻有沒(méi)有問(wèn)題,最簡(jiǎn)單的方法就是拿萬(wàn)用電表量測(cè)其兩頭就...
飛針測(cè)試和測(cè)試架的區(qū)別及各自?xún)?yōu)勢(shì)分析
PCB板在生產(chǎn)過(guò)程中,難免因外在因素而造成短路、斷路及漏電等電性上的瑕疵,再加上PCB線(xiàn)路板不斷朝高密度、細(xì)間距及多層次的演進(jìn),若未能及時(shí)將不良板篩檢出...
Xilinx VC730 OTN測(cè)試開(kāi)發(fā)平臺(tái)
了解Xilinx的VC730 OTN測(cè)試開(kāi)發(fā)平臺(tái),適用于從1到400G的所有OTN應(yīng)用的快速開(kāi)發(fā)。
2018-11-30 標(biāo)簽:測(cè)試賽靈思開(kāi)發(fā) 2906 0
Xilinx 4x100G轉(zhuǎn)發(fā)器的參考設(shè)計(jì)介紹
了解在VC730 OTN測(cè)試開(kāi)發(fā)平臺(tái)上運(yùn)行的Xilinx 4x100G轉(zhuǎn)發(fā)器參考設(shè)計(jì)。 (簡(jiǎn)明版)
2018-11-30 標(biāo)簽:測(cè)試賽靈思轉(zhuǎn)發(fā)器 3225 0
如何使用DPDK進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)性能基準(zhǔn)測(cè)試
描述英特爾如何使用DPDK第3層轉(zhuǎn)發(fā)(l3fwd)示例應(yīng)用程序工作負(fù)載執(zhí)行高吞吐量網(wǎng)絡(luò)性能基準(zhǔn)測(cè)試。
2018-10-31 標(biāo)簽:測(cè)試數(shù)據(jù)intel 6361 0
如何在英特爾XDK中使用“測(cè)試”選項(xiàng)卡和Weinre
Paul Fischer解釋了如何在英特爾?XDK中使用“測(cè)試”選項(xiàng)卡和Weinre。
SGMII接口基本功能仿真測(cè)試及常見(jiàn)異常問(wèn)題的解決方法
SGMII接口(開(kāi)啟自協(xié)商)調(diào)試分為三個(gè)步驟,先測(cè)試SGMII最基本功能仿真、再測(cè)試SGMII最基本功能自回環(huán)上板、最后直接測(cè)試開(kāi)啟自協(xié)商功能后上板
This video features Intel’s approach to testing PMDK libraries. The video li...
為英特爾xdk安裝的windows adb驅(qū)動(dòng)程序
Installing the Windows Android ADB driver for use with the Intel XDK Debug tab.
2018-10-17 標(biāo)簽:測(cè)試英特爾驅(qū)動(dòng)程序 2756 0
The Level Up 2014 grand prize winner, Duet, is a music-action-puzzle game th...
如何通過(guò)腳本方案實(shí)現(xiàn)對(duì)ECU進(jìn)行固件升級(jí)
由于使用圖形化的配置方式,QzTitan相比于使用硬編碼具有更強(qiáng)的靈活性,使得非軟件開(kāi)發(fā)人員也能輕松使用。
移動(dòng)電話(huà)開(kāi)發(fā)測(cè)試的解決方案
移動(dòng)電話(huà)已經(jīng)發(fā)展成為綜合了語(yǔ)音和數(shù)據(jù)功能的復(fù)雜移動(dòng)設(shè)備,因此要求在開(kāi)發(fā)過(guò)程中執(zhí)行廣泛的高效的測(cè)試,實(shí)現(xiàn)快速上市 的目標(biāo),本文詳細(xì)介紹在無(wú)線(xiàn)設(shè)備開(kāi)發(fā)中的七...
2019-07-12 標(biāo)簽:測(cè)試移動(dòng)電話(huà) 2282 0
低壓差分信號(hào)傳輸模擬交叉點(diǎn)開(kāi)關(guān)SCAN90CP02的特點(diǎn)及應(yīng)用分析
低壓差分信號(hào)傳輸LVDS(Low Voltage Differential Signaling)是高速、低電壓、低功率、低噪聲通用I/O接口標(biāo)準(zhǔn)。這種信...
2020-06-01 標(biāo)簽:開(kāi)關(guān)pcb測(cè)試 3815 0
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