提升人形機器人運動能力，需要把控運動關節(jié)哪些關鍵參數(shù)？

電機、減速器、絲杠則是人形機器人關鍵運動的關鍵組成部件。因此在生產(chǎn)制造中，如何精確控制這三大零部件的關鍵尺寸與參數(shù)，成為首要課題。

2025-07-01 標簽：人形機器人白光干涉儀優(yōu)可測 661 0

引進白光干涉儀管控微流控芯片形貌，性能大幅提升

白光干涉儀納米級管控微流控芯片表面粗糙度，以及微流道高度和寬度，提升微流控產(chǎn)品性能與質(zhì)量，滿足不同客戶需求。

2025-05-29 標簽：微流控芯片微流控表面粗糙度 238 0

探索微觀世界的“度量衡”：顯微測量儀器解析

臺階儀、光學輪廓儀和共聚焦顯微鏡，這些看似冰冷的儀器設備，實則是微觀世界的“度量衡”，憑借其技術與性能，為我們解鎖微觀世界的厚度奧秘。

2025-05-23 標簽：測量儀器輪廓測量白光干涉儀 299 0

三維表面輪廓儀的維護保養(yǎng)是確保其長期穩(wěn)定運行的關鍵

三維表面輪廓儀是一種高精度測量設備，用于非接觸式或接觸式測量物體表面的三維形貌、粗糙度、臺階高度、紋理特征等參數(shù)。其主要基于光學原理進行測量。它利用激光...

2025-05-21 標簽：輪廓測量儀白光干涉儀輪廓儀 242 0

優(yōu)可測白光干涉儀和薄膜厚度測量儀：如何把控ITO薄膜的“黃金參數(shù)”

ITO薄膜的表面粗糙度與厚度影響著其產(chǎn)品性能與成本控制。優(yōu)可測亞納米級檢測ITO薄膜黃金參數(shù)，幫助廠家優(yōu)化產(chǎn)品性能，實現(xiàn)降本增效。

2025-04-16 標簽：表面粗糙度ITO薄膜薄膜厚度 416 0

白光干涉儀：表面形貌分析，如何區(qū)分波紋度與粗糙度？

表面形貌分析中，波紋度和粗糙度是兩種關鍵特征。通過濾波技術設置截止波長，可將兩者分離。分離后，通過計算參數(shù)或FFT驗證效果。這種分析有助于優(yōu)化加工工藝、...

2025-03-19 標簽：測量表面粗糙度白光干涉儀 529 0

微透鏡陣列精準全檢，優(yōu)可測3D自動量測方案提效70%

微透鏡陣列可實現(xiàn)許多傳統(tǒng)光學元器件難以實現(xiàn)的特殊功能，應用廣泛。某福州工廠需全檢晶圓MLA產(chǎn)品，引入優(yōu)可測NX230系列晶圓3D自動量測設備，實現(xiàn)高精度...

2025-01-15 標簽：微透鏡光學元件白光干涉儀 628 0

關于白光干涉儀的常見提問及回答

原理相關1、白光干涉儀的基本原理是什么：白光干涉儀的基本原理是利用光學干涉原理。光源發(fā)出的光經(jīng)過擴束準直后經(jīng)分光棱鏡分成兩束，一束光經(jīng)被測表面反射回來，...

2025-01-09 標簽：測量CCD相機白光干涉儀 955 0

3D白光干涉輪廓儀原理，特點，參數(shù)

3D白光干涉輪廓儀 WLI-1000提供了強?、多功能的?接觸式光學表?分析。它可以簡單和快速地測量各種表?類型，包括光滑、粗糙、平坦、傾斜和階梯式的表?。

2024-08-10 標簽：測量系統(tǒng)圖像輪廓三維掃描儀 1022 0

納米級材料尺寸如何測量？

在納米顯微測量領域，中圖儀器基于納米傳動與掃描技術、白光干涉與高精度3D重建技術、共聚焦測量等技術積累，推出了具有自主知識產(chǎn)權的白光干涉儀（Z向分辨率可...

2024-07-09 標簽：測量儀納米級精密儀器 1420 0

改善光刻圖形垂直度的方法及白光干涉儀在光刻圖形的測量

引言 在半導體制造與微納加工領域，光刻圖形的垂直度對器件的電學性能、集成密度以及可靠性有著重要影響。精準控制光刻圖形垂直度是保障先進制程工藝精度的關鍵。...

2025-06-30 標簽：測量白光干涉儀 116 0

金屬低蝕刻率光刻膠剝離液組合物應用及白光干涉儀在光刻圖形的測量

引言 在半導體及微納制造領域，光刻膠剝離工藝對金屬結構的保護至關重要。傳統(tǒng)剝離液易造成金屬過度蝕刻，影響器件性能。同時，光刻圖形的精確測量是保障工藝質(zhì)量...

2025-06-24 標簽：測量光刻膠白光干涉儀 143 0

避免寄生柵極效應和斜紋 Mura 的光刻膠剝離裝置及白光干涉儀在光刻圖形的測量

引言 在半導體和顯示面板制造過程中，光刻膠剝離環(huán)節(jié)若處理不當，易引發(fā)寄生柵極效應和斜紋 Mura 問題，嚴重影響產(chǎn)品性能和顯示質(zhì)量。同時，光刻圖形的精確...

2025-06-19 標簽：干涉白光干涉儀白光干涉 137 0

解鎖微觀測量新境界：光學3D輪廓儀與共聚焦顯微成像的結合應用

在當今科技飛速發(fā)展的時代，眾多行業(yè)正朝著精細化、微型化的方向大步邁進。當芯片上的晶體管小到肉眼不可見，當手機攝像頭鏡片需要納米級平整度，傳統(tǒng)測量工具還能...

2025-06-13 標簽：測量電動顯微成像白光干涉儀 361 0

水平式光刻膠剝離工藝及白光干涉儀在光刻圖形的測量

引言 在半導體制造和微納加工領域，光刻膠剝離是光刻工藝的重要環(huán)節(jié)。水平式光刻膠剝離工藝憑借其獨特優(yōu)勢在工業(yè)生產(chǎn)中占據(jù)一席之地，而準確測量光刻圖形對保障工...

2025-06-04 標簽：光刻白光干涉儀 101 0

以精密測量探索人類未來，優(yōu)可測邀您共赴六月行業(yè)盛會

六月夏至，智測未來。優(yōu)可測將亮相多場行業(yè)盛會！誠邀您共同探索精密測量&半導體檢測世界！

2025-05-29 標簽：傳感器影像測量儀白光干涉儀 422 0

光刻膠剝離液及其制備方法及白光干涉儀在光刻圖形的測量

引言 在半導體制造與微納加工領域，光刻膠剝離液是光刻膠剝離環(huán)節(jié)的核心材料，其性能優(yōu)劣直接影響光刻膠去除效果與基片質(zhì)量。同時，精準測量光刻圖形對把控工藝質(zhì)...

2025-05-29 標簽：光刻光刻膠白光干涉儀 221 0

納米壓印制備硅基 OLED 微型顯示器的方法及白光干涉儀在光刻圖形的測量

引言 硅基 OLED 微型顯示器憑借高分辨率、高對比度等優(yōu)勢，在虛擬現(xiàn)實、增強現(xiàn)實等領域應用廣泛。納米壓印技術為其制備提供了新方向，而精確測量光刻圖形是...

2025-05-26 標簽：OLED光刻白光干涉儀 185 0

玻璃基板精密檢測，優(yōu)可測方案提升良率至90%

優(yōu)可測白光干涉儀（精度0.03nm）&超景深顯微鏡-高精度檢測方案，助力玻璃基板良率提升至90%，加速產(chǎn)業(yè)高端化進程。

2025-05-12 標簽：玻璃基板顯微鏡精密檢測儀器 263 0

白光干涉精析偏振串擾，OLI-P重新定義保偏光纖檢測新標準

在高速光通信與精密傳感領域，保偏光纖的偏振穩(wěn)定性是系統(tǒng)性能的“生命線”。然而，傳統(tǒng)檢測手段受限于靈敏度低、無法實現(xiàn)分布式測量，難以捕捉微弱的偏振耦合信號...

2025-04-30 標簽：光纖檢測白光干涉儀 362 0