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標(biāo)簽 > ate
ATE是Automatic Test Equipment的縮寫,于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路(IC)自動(dòng)測(cè)試機(jī),用于檢測(cè)集成電路功能之完整性, 為集成電路生產(chǎn)制造之最后流程, 以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。
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OM3多模光纖(Multi-ModeFiber),屬于OM系列光纖中的一種。光纖芯直徑通常為50μm,包層直徑為125μm。具有低色散和激光優(yōu)化的性能特...
2024-08-30 標(biāo)簽:光纖ATE測(cè)試設(shè)備 562 0
采用系統(tǒng)級(jí)模塊方法簡(jiǎn)化精密阻抗分析儀的設(shè)計(jì)
作者:Kenton Williston 投稿人:DigiKey 北美編輯 許多應(yīng)用都要求準(zhǔn)確的阻抗測(cè)量,這些應(yīng)用包括觸摸屏校準(zhǔn)、半導(dǎo)體表征、晶圓驗(yàn)收和電...
電纜線束是電子系統(tǒng)的核心組件,通常由多根鍍銅線組成,連接到不同位置,總長(zhǎng)度可達(dá)數(shù)千米。然而,在制造過(guò)程中,這些銅線可能會(huì)因刮擦、扭曲、打結(jié)或部分割斷而產(chǎn)...
2025-03-11 標(biāo)簽:測(cè)試測(cè)量自動(dòng)測(cè)試ATE 530 0
產(chǎn)品應(yīng)用方案|士模八通道同步采樣ADC(CM2248)在ATE設(shè)備中的應(yīng)用
CM2248具有集成度高,92dB SNR高信噪比,-105dB高THD等優(yōu)勢(shì);使得它非常適合應(yīng)用于ATE設(shè)備中各類信號(hào)的高精度回采。同時(shí),CM2248...
2025-03-06 標(biāo)簽:adc模數(shù)轉(zhuǎn)換器ATE 419 0
01項(xiàng)目概述為海軍ATE測(cè)試設(shè)備開發(fā)海量互連V25通用測(cè)試接口,提升測(cè)試系統(tǒng)的通用性、可移植性和維護(hù)效率。核心思想:從“面向儀器”轉(zhuǎn)向“面向信號(hào)”,通過(guò)...
2025-03-21 標(biāo)簽:接口ATE測(cè)試設(shè)備 335 0
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