完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>
標(biāo)簽 > 測(cè)試
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。
文章:4794個(gè) 瀏覽:128783次 帖子:722個(gè)
電鍍就是利用電解原理在某些金屬表面上鍍上一薄層其它金屬或合金的過(guò)程,是利用電解作用使金屬或其它材料制件的表面附著一層金屬膜的工藝從而起到防止金屬氧化(如...
STM32+SD NAND(貼片SD卡)完成FATFS文件系統(tǒng)移植與測(cè)試
這篇文章就手把手教大家,在STM32上完成FATFS文件系統(tǒng)的移植;主控芯片采用STM32F103ZET6, 存儲(chǔ)芯片我這里采用(雷龍) CS創(chuàng)世 SD...
雙脈沖測(cè)試(Double Pulse Test, DPT)是一種測(cè)試方法,常用于評(píng)估和分析電力系統(tǒng)、電子設(shè)備、組件以及半導(dǎo)體器件的電氣特性。這種測(cè)試通過(guò)...
文章結(jié)合一種距離、光線傳感器失效問(wèn)題,進(jìn)行問(wèn)題調(diào)查,發(fā)現(xiàn)主要原因?yàn)椋簜鞲衅鞯脑龈甙宕嬖诨亓骱负笫艿綗釠_擊導(dǎo)致過(guò)孔沉銅拉裂出現(xiàn)似接觸非接觸不穩(wěn)定的故障;最...
熱重法的特點(diǎn)及在測(cè)試時(shí)的影響因素有哪些
熱重分析是指在程序控制溫度下測(cè)量待測(cè)樣品的質(zhì)量與溫度變化關(guān)系的一種熱分析技術(shù),用來(lái)研究材料的熱穩(wěn)定性和組分。TGA在研發(fā)和質(zhì)量控制方面都是比較常用的檢測(cè)...
在電子行業(yè)如何進(jìn)行更好的數(shù)據(jù)采集?
在工業(yè)4.0發(fā)展的大背景下,衍生出了智能家居、電力電子、新能源汽車、機(jī)器人、智能農(nóng)業(yè)等具有廣闊市場(chǎng)前景的行業(yè)。歸根溯源,電子產(chǎn)業(yè)的發(fā)展均離不開數(shù)據(jù)的采集...
2017-10-19 標(biāo)簽:測(cè)試數(shù)據(jù)采集 9119 0
DCDC隔離電源的常見(jiàn)測(cè)試指標(biāo)及其測(cè)試方法
DCDC隔離式開關(guān)電源的測(cè)試方式與ACDC電源有許多不同的地方。借此平臺(tái)與大家分享下多年來(lái)的一些測(cè)試方法及其心得。
在SMT工廠的貼片加工廠生產(chǎn)中外觀質(zhì)量也是質(zhì)量檢測(cè)中的重點(diǎn)因素,并且會(huì)很直觀的呈現(xiàn)出來(lái),代工代料的客戶對(duì)于產(chǎn)品質(zhì)量的第一印象就是外觀,從外觀可以對(duì)SMT...
【4200 SMU應(yīng)用文章】之實(shí)例篇:支持千倍以上負(fù)載電容的靈敏測(cè)試
作者:泰克科技 使用長(zhǎng)電纜或電容夾頭的測(cè)試設(shè)置會(huì)增加測(cè)試儀器輸出的電容,導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確或不穩(wěn)定。當(dāng)輸出或掃描直流電壓并測(cè)量異常靈敏的低電流時(shí),能觀察...
測(cè)試治具的優(yōu)劣勢(shì)及使用注意事項(xiàng)說(shuō)明
測(cè)試治具屬于治具下面的一個(gè)類別,專門對(duì)產(chǎn)品的功能、功率校準(zhǔn)、壽命、性能等進(jìn)行測(cè)試、試驗(yàn)的一種治具。因其主要在生產(chǎn)線上用于產(chǎn)品的各項(xiàng)指標(biāo)的測(cè)試,所以叫測(cè)試治具。
阻容降壓因?yàn)檩斎胼敵鰶](méi)有隔離而比較危險(xiǎn)(其實(shí)絕緣和接地做好了也是非常安全的)。
飛針測(cè)試和測(cè)試架的區(qū)別及各自優(yōu)勢(shì)分析
PCB板在生產(chǎn)過(guò)程中,難免因外在因素而造成短路、斷路及漏電等電性上的瑕疵,再加上PCB線路板不斷朝高密度、細(xì)間距及多層次的演進(jìn),若未能及時(shí)將不良板篩檢出...
磁簧開關(guān)的組成結(jié)構(gòu)及優(yōu)缺點(diǎn)分析
磁簧開關(guān)也稱之為干簧管,它是一個(gè)通過(guò)所施加的磁場(chǎng)操作的電開關(guān)。它是由兩片磁簧片(通常由鐵和鎳這兩種金屬所組成的)?密封在玻璃管內(nèi)。兩片磁簧片呈重迭狀況但...
印制電路板根據(jù)制作材料可分為剛性印制板和撓性印制板。剛性線路板主要是以覆銅板作為基材生產(chǎn)制造。剛性印制板有酚醛紙質(zhì)層壓板、環(huán)氧紙質(zhì)層壓板、聚酯玻璃氈層壓...
嵌入式系統(tǒng)軟硬件功能測(cè)試方法及性能評(píng)估研究
首先,這里需要明確嵌入式系統(tǒng)的系統(tǒng)測(cè)試定義,是將開發(fā)的軟件系統(tǒng)(包括嵌入式操作系統(tǒng)和嵌入式應(yīng)用軟件)、硬件系統(tǒng)和其它相關(guān)因素(如人員的操作、數(shù)據(jù)的獲取等...
2020-03-10 標(biāo)簽:測(cè)試嵌入式操作系統(tǒng) 7494 0
靜態(tài)分析和動(dòng)態(tài)分析的區(qū)別
靜態(tài)分析和動(dòng)態(tài)分析是一種雙管齊下的方法,可以在可靠性、錯(cuò)誤檢測(cè)、效率和安全性方面改進(jìn)開發(fā)過(guò)程。為什么它們都很重要?它們又有什么區(qū)別呢?
2023-05-16 標(biāo)簽:測(cè)試代碼動(dòng)態(tài)分析 7394 0
LabVIEW調(diào)用C#編寫的.NET類庫(kù)
本文主要是LabVIEW無(wú)法調(diào)用回調(diào)函數(shù)dll的問(wèn)題的解決方法,也介紹了LabVIEW調(diào)用C#庫(kù)的方法。
光伏發(fā)電單元高電壓穿越能力測(cè)試過(guò)程及能力驗(yàn)證
光伏發(fā)電站高電壓穿越能力檢測(cè)應(yīng)包括光伏發(fā)電單元高電壓穿越能力測(cè)試以及光伏發(fā)電站高電壓穿越能力驗(yàn)證,其基本要求有以下幾個(gè)方面。
編輯推薦廠商產(chǎn)品技術(shù)軟件/工具OS/語(yǔ)言教程專題
電機(jī)控制 | DSP | 氮化鎵 | 功率放大器 | ChatGPT | 自動(dòng)駕駛 | TI | 瑞薩電子 |
BLDC | PLC | 碳化硅 | 二極管 | OpenAI | 元宇宙 | 安森美 | ADI |
無(wú)刷電機(jī) | FOC | IGBT | 逆變器 | 文心一言 | 5G | 英飛凌 | 羅姆 |
直流電機(jī) | PID | MOSFET | 傳感器 | 人工智能 | 物聯(lián)網(wǎng) | NXP | 賽靈思 |
步進(jìn)電機(jī) | SPWM | 充電樁 | IPM | 機(jī)器視覺(jué) | 無(wú)人機(jī) | 三菱電機(jī) | ST |
伺服電機(jī) | SVPWM | 光伏發(fā)電 | UPS | AR | 智能電網(wǎng) | 國(guó)民技術(shù) | Microchip |
Arduino | BeagleBone | 樹莓派 | STM32 | MSP430 | EFM32 | ARM mbed | EDA |
示波器 | LPC | imx8 | PSoC | Altium Designer | Allegro | Mentor | Pads |
OrCAD | Cadence | AutoCAD | 華秋DFM | Keil | MATLAB | MPLAB | Quartus |
C++ | Java | Python | JavaScript | node.js | RISC-V | verilog | Tensorflow |
Android | iOS | linux | RTOS | FreeRTOS | LiteOS | RT-THread | uCOS |
DuerOS | Brillo | Windows11 | HarmonyOS |