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標(biāo)簽 > 測(cè)試
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。
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存儲(chǔ)器和數(shù)字芯片測(cè)試的基本測(cè)試技術(shù)
存儲(chǔ)器芯片是在特定條件下用來存儲(chǔ)數(shù)字信息的芯片。存儲(chǔ)的信息可以是操作代碼,數(shù)據(jù)文件或者是二者的結(jié)合等。根據(jù)特性的不同,存儲(chǔ)器可以分為以下幾類,如表1所示:
采用IDS測(cè)試環(huán)境實(shí)現(xiàn)對(duì)入侵檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試
邊界路由器介于流量產(chǎn)生器和網(wǎng)絡(luò)環(huán)境之間,它起到劃分內(nèi)部流量和外部流量的作用。邊界路由器還有向網(wǎng)內(nèi)的其他路由器和設(shè)備分配流量的作用。其他的如防火墻和主機(jī)等...
2018-12-17 標(biāo)簽:測(cè)試檢測(cè)系統(tǒng)仿真 4430 0
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展,晶圓接受測(cè)試(Wafer Acceptance Test,WAT)在半導(dǎo)體制造過程中的地位日益凸顯。WAT測(cè)試的核心目標(biāo)是確保...
MIPI D-PHY物理層自動(dòng)一致性測(cè)試
【360度看新一代示波器】系列之六:MIPI D-PHY物理層自動(dòng)一致性測(cè)試:在一個(gè)層面上的對(duì)話,才是有效互動(dòng)。
模擬電壓緩沖器是混合信號(hào)設(shè)計(jì)中非常重要的基本組成部件。它們主要用作信號(hào)*和驅(qū)動(dòng)負(fù)載。在第一種情況下,緩沖器通常連接到測(cè)試電路和要求低輸入電容的電路的內(nèi)部...
封裝測(cè)試是將生產(chǎn)出來的合格晶圓進(jìn)行切割、焊線、塑封,使芯片電路與外部器件實(shí)現(xiàn)電氣連接,為芯片提供機(jī)械物理保護(hù),并利用測(cè)試工具,對(duì)封裝完的芯片進(jìn)行功能和性...
▼關(guān)注公眾號(hào): 工程師看海▼ 分享一篇優(yōu)秀的文章,來自知乎ID: 是德科技 Keysight Technologies 很多工程師都知道高速信號(hào)需要測(cè)量...
隨著千行百業(yè)數(shù)字化轉(zhuǎn)型的逐步深入,各種各樣的數(shù)字化新業(yè)務(wù),新需求如雨后春筍般涌現(xiàn),這也迫切要求網(wǎng)絡(luò)策略能夠快速變更和調(diào)整以適應(yīng)業(yè)務(wù)需求的快速變化。然而,...
汽車emc測(cè)試項(xiàng)目包括哪些 汽車電子emc測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
汽車EMC測(cè)試項(xiàng)目是為了評(píng)估汽車電子設(shè)備在電磁環(huán)境下的抗干擾能力,以確保車輛的正常運(yùn)行和安全性。以下是關(guān)于汽車EMC測(cè)試項(xiàng)目和測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的詳細(xì)介紹,包括電...
This video features Intel’s approach to testing PMDK libraries. The video li...
汽車零部件漏率標(biāo)準(zhǔn)和氦質(zhì)譜檢漏方法
為了滿足環(huán)保要求, 安全性能和功能, 汽車的眾多零部件均需要進(jìn)行密封性泄漏測(cè)試, 上海伯東依據(jù)專業(yè)知識(shí)和技術(shù)支持, 提供從汽車零部件設(shè)計(jì)階段到最終實(shí)施檢...
2023-06-02 標(biāo)簽:測(cè)試汽車氦質(zhì)譜檢漏 4235 0
音頻放大器額定功率的測(cè)試設(shè)備連接和測(cè)試過程
如果音頻放大器的動(dòng)態(tài)余量規(guī)定為3 dB,則放大器的峰值功率為平均功率的2倍。例如,如果放大器的額定平均功率為200 W,峰值功率為400 W。某些高端音...
吉時(shí)利萬用表的四線測(cè)試法是什么,主要應(yīng)用作用是什么
傳統(tǒng)的電阻測(cè)量通常用的是兩線測(cè)量法來進(jìn)行測(cè)量,比如我們最常用的手持式萬用表。測(cè)量時(shí)只需要將紅黑表筆點(diǎn)在待測(cè)電阻的左右兩端,萬用表會(huì)自動(dòng)添加一個(gè)激勵(lì)電流或...
MOSFET(金屬—氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)是 一種利用電場(chǎng)效應(yīng)來控制其電流大小的常見半導(dǎo)體器件,可 以 廣 泛 應(yīng) 用 在 模 擬 電 路 和 數(shù) ...
高速PCB設(shè)計(jì)分析:如何進(jìn)行模擬和信號(hào)完整性的檢查?
了解布局造成的這種破壞可以在鋪設(shè)電路板時(shí)實(shí)現(xiàn)分辨率。了解您所應(yīng)用的布局技術(shù)是否是PCB設(shè)計(jì)中信號(hào)完整性分析的最佳實(shí)踐??梢酝ㄟ^執(zhí)行冗長(zhǎng)的鉛筆分析或使用信...
如何確保功率半導(dǎo)體器件光電器件和高功率密度產(chǎn)品熱性能一致
引言: 隨著芯片結(jié)溫的升高,半導(dǎo)體器件的壽命將呈指數(shù)下降。芯片的工作溫度取決于半導(dǎo)體封裝的結(jié)構(gòu)及其冷卻環(huán)境。適宜的熱設(shè)計(jì)和可靠的制造程序能幫助將半導(dǎo)體器...
詳細(xì)介紹DTC狀態(tài)每一位的定義: 1.0 DTC status bit0 : testFailed 如果在最近的一次測(cè)試結(jié)果為Failed,那么相應(yīng)DT...
CMW500進(jìn)行LTE TCP和UDP測(cè)試方法
本文主要介紹TCP和UDP測(cè)試方法,包含上行速率、下行速率、和并發(fā)速率測(cè)試,其中:上行業(yè)務(wù)測(cè)試時(shí),智能待測(cè)設(shè)備要先打開儀表端Iperf后,再打開待測(cè)設(shè)備...
示波器的三大關(guān)鍵指標(biāo)及使用注意事項(xiàng)
在FAE的日常工作中經(jīng)常收到有用戶反饋:明明系統(tǒng)已經(jīng)正常運(yùn)行,但是在測(cè)試量化波形數(shù)據(jù)時(shí)得到的結(jié)果卻不盡人意,為何會(huì)產(chǎn)生如此出入呢?問題可能出在測(cè)試方法和...
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