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標(biāo)簽 > 測試
測試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測”與中文“試”兩個字組成的詞語。是動詞、名詞。測試行為,一般發(fā)生于為檢測特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進行驗證,并最終得出特定的結(jié)果。
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在線測試(In-Circiut Test)是指采用隔離技術(shù),在被測試PCB上的測試點施加測試探針來測試器件、電路網(wǎng)絡(luò)特性的一種電性能測試方法。由于它是通...
對于網(wǎng)站的測試而言,每一個獨立的功能模塊需要單獨的測試用例的設(shè)計導(dǎo)出,主要依據(jù)為《需求規(guī)格說明書》及《詳細(xì)設(shè)計說明書》,對于應(yīng)用程序模塊需要設(shè)計者提供基...
康謀分享 | 如何應(yīng)對ADAS/AD海量數(shù)據(jù)處理挑戰(zhàn)?
如何有效處理ADAS/AD海量數(shù)據(jù)并從中獲得見解?IVEX數(shù)據(jù)處理流程可自動從原始傳感器數(shù)據(jù)等輸入中識別出值得關(guān)注的事件和場景,推動數(shù)據(jù)高效低成本處理,...
2024-12-25 標(biāo)簽:測試汽車電子數(shù)據(jù)處理 3969 0
SMT貼片加工生產(chǎn)過程的受控條件及對質(zhì)控點的要求
SMT貼片加工生產(chǎn)過程直接影響產(chǎn)品的質(zhì)量,因此應(yīng)對工藝參數(shù)、人員、設(shè)備、材料、加工、監(jiān)視和測試方法、環(huán)境等影響生產(chǎn)過程質(zhì)量的所有因素加以控制,使其處于受...
對芯片來說,測試是流片后或者上市前的必須環(huán)節(jié)。那么集成電路廠家如何做芯片的出廠測試呢。 大型半導(dǎo)體廠商的每天就有幾萬片芯片的流水,測試的壓力是非常大。當(dāng)...
低壓差分信號傳輸模擬交叉點開關(guān)SCAN90CP02的特點及應(yīng)用分析
低壓差分信號傳輸LVDS(Low Voltage Differential Signaling)是高速、低電壓、低功率、低噪聲通用I/O接口標(biāo)準(zhǔn)。這種信...
OTP6123手持式OTDR測試儀的功能及應(yīng)用范圍
OTP6123手持式 OTDR測試儀覆蓋骨干網(wǎng)、城域網(wǎng)和接入網(wǎng)的所有光纖應(yīng)用,可提供完善的光纖測試。同時OTP6123具備輕巧、靈活、耐用的特點,可應(yīng)用...
軟件定義汽車對網(wǎng)絡(luò)通信技術(shù)的影響圖1:汽車電子電氣架構(gòu)演進趨勢十多年來,汽車電子電氣架構(gòu)架構(gòu)在不斷升級的應(yīng)用需求的推動下快速演進。從智能網(wǎng)聯(lián)、自動駕駛、...
利用NI VeriStand 2010實現(xiàn)分布式同步系統(tǒng)的設(shè)計
分布式系統(tǒng)有多種形式。例如,在與中央處理器不同的位置處理輸入和輸出(I/O)的方法通常稱為分布式I/O。另一個例子是為單系統(tǒng)添加多個處理器,對運算分布式...
2021-03-24 標(biāo)簽:處理器測試控制系統(tǒng) 3720 0
問題1、為何點擊開始測試總是彈出提示聯(lián)機失敗,該如何解決?答:聯(lián)機失敗表明軟件未能與機器成功連接。沒有聯(lián)機成功的原因,可能原因串口線或網(wǎng)線不正常,電腦串...
產(chǎn)品簡介:可編程直流穩(wěn)壓電源是采用PWM技術(shù)的高頻開關(guān)式直流電源,模塊化設(shè)計,采用先進的DSP數(shù)字控制技術(shù),具有恒壓、恒流、恒功率模式輸出,可自動交叉變...
在VC 6.O平臺上實現(xiàn)遙測截取方式的設(shè)計
三種分割方式最后都?xì)w結(jié)到按幀分割。按幀分割惟一復(fù)雜的地方就是剔除無效幀。要剔除無效幀需要將每一幀數(shù)據(jù)的同步碼取出來和標(biāo)準(zhǔn)的同步碼進行比較。如果差異位數(shù)超...
2020-08-22 標(biāo)簽:測試數(shù)據(jù)函數(shù) 3580 0
北匯信息推出座艙域功能測試解決方案,支持在實驗室環(huán)境以及實車環(huán)境下完成座艙域功能測試,不僅可以確保產(chǎn)品質(zhì)量、提升用戶體驗、保障行車安全,也能降低維護成本...
Xilinx快速傅立葉變換(FFT IP)內(nèi)核實現(xiàn)了Cooley-Tukey FFT算法,這是一種計算有效的方法,用于計算離散傅立葉變換(DFT)。
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