新型功率器件的老化測(cè)試方法

隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，新型功率器件如碳化硅（SiC）和氮化鎵（GaN）因其優(yōu)異的性能被廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。然而，這些器件在長期連續(xù)使用后會(huì)出現(xiàn)老化現(xiàn)...

2025-06-03 標(biāo)簽：功率器件氮化鎵碳化硅 546 0

一文了解材料耐候老化測(cè)試

高分子材料老化現(xiàn)象高分子材料在其整個(gè)生命周期，包括合成、貯存、加工以及最終應(yīng)用階段，都面臨著變質(zhì)的風(fēng)險(xiǎn)，這種變質(zhì)表現(xiàn)為材料性能的惡化。具體而言，可能出現(xiàn)...

2025-03-27 標(biāo)簽：材料老化測(cè)試 360 0

工廠老化測(cè)試解決方案：GCOM80-2NET-E如何賦能智能制造

老化測(cè)試是產(chǎn)品質(zhì)量把控的關(guān)鍵，但傳統(tǒng)方式效率低、成本高。GCOM80-2NET-E通過智能協(xié)議解析、多設(shè)備兼容和數(shù)據(jù)輕量化，大幅提升測(cè)試效率，縮短周期，...

2025-03-18 標(biāo)簽：老化測(cè)試智能制造 488 0

臭氧老化試驗(yàn)箱：材料老化測(cè)試的關(guān)鍵設(shè)備

在材料科學(xué)領(lǐng)域，臭氧老化試驗(yàn)箱是一種至關(guān)重要的設(shè)備，用于評(píng)估材料在臭氧環(huán)境下的老化性能。臭氧作為一種強(qiáng)氧化劑，能與許多材料發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，加速其老化過程，...

2025-03-10 標(biāo)簽：試驗(yàn)箱老化測(cè)試 329 0

老化試驗(yàn)箱：加速集成電路壽命評(píng)估的關(guān)鍵設(shè)備與技術(shù)全覽

在集成電路研發(fā)中，傳統(tǒng)自然老化測(cè)試需耗時(shí)數(shù)年，無法匹配產(chǎn)品快速迭代需求。老化試驗(yàn)箱通過模擬高溫、高濕、紫外輻照等極端環(huán)境，將數(shù)年老化過程壓縮至數(shù)百小時(shí)，...

2025-03-08 標(biāo)簽：試驗(yàn)箱老化測(cè)試試驗(yàn)設(shè)備 768 0

艾德克斯IT2700在電源管理芯片老化測(cè)試中的應(yīng)用

在半導(dǎo)體領(lǐng)域，電源管理芯片老化測(cè)試是評(píng)估器件可靠性和篩選潛在缺陷的重要環(huán)節(jié)，通過模擬極端工況加速芯片老化以暴露材料、工藝或設(shè)計(jì)中的薄弱點(diǎn)。隨著電子設(shè)備的...

2025-03-04 標(biāo)簽：半導(dǎo)體電源管理艾德克斯 584 0

紫外(UV)老化測(cè)試：7個(gè)關(guān)鍵問題解析

紫外線對(duì)產(chǎn)品的影響在自然界中，陽光中的紫外線是導(dǎo)致產(chǎn)品光降解和光老化的主要原因。這種無形的輻射不僅對(duì)人體健康構(gòu)成威脅，對(duì)產(chǎn)品的損害同樣不容忽視。產(chǎn)品或材...

2024-12-24 標(biāo)簽：紫外線太陽光老化測(cè)試 948 0

IC芯片老化測(cè)試以及方案詳解

芯片老化試驗(yàn)是一種對(duì)芯片進(jìn)行長時(shí)間運(yùn)行和負(fù)載測(cè)試的方法，以模擬芯片在實(shí)際使用中的老化情況。1.目的：芯片老化試驗(yàn)的目的是評(píng)估芯片在長時(shí)間使用和負(fù)載情況下...

2024-11-23 標(biāo)簽：IC芯片模擬芯片老化測(cè)試 2365 0

耐久性測(cè)試：氙燈加速老化測(cè)試

在自然界中，產(chǎn)品經(jīng)常遭受光照的影響，尤其是太陽光中的紫外線（UV），結(jié)合溫度和濕度的變化，可能導(dǎo)致產(chǎn)品性能下降、表面裂紋、脫落、色澤變暗、變色、粉化等老...

2024-11-04 標(biāo)簽：測(cè)試耐久性老化測(cè)試 483 0

LED如何做老化測(cè)試

LED(發(fā)光二極管)因其高效能和長壽命，廣泛應(yīng)用于照明、顯示和信號(hào)等領(lǐng)域。然而，為了確保LED在實(shí)際應(yīng)用中的可靠性和穩(wěn)定性，進(jìn)行老化測(cè)試是不可或缺的一步...

2024-10-26 標(biāo)簽：試驗(yàn)箱測(cè)試設(shè)備老化 1873 0

PCBA老化測(cè)試：產(chǎn)品質(zhì)量的試金石

近幾年在政策的扶持推動(dòng)下，新能源汽車得到大力發(fā)展，競(jìng)爭(zhēng)也日趨激烈，在這場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中產(chǎn)品的安全性和可靠性成為決定勝負(fù)的關(guān)鍵。PCBA(印刷電路板組裝)作為汽車...

2024-12-23 標(biāo)簽：PCBA老化測(cè)試 528 0

臭氧老化試驗(yàn)箱：加速材料老化測(cè)試的得力助手

在科研與工業(yè)生產(chǎn)中，了解材料在長時(shí)間自然環(huán)境下的老化性能至關(guān)重要。為了快速準(zhǔn)確地模擬這一過程，臭氧老化試驗(yàn)箱應(yīng)運(yùn)而生。這款設(shè)備以其獨(dú)特的功能和高效的測(cè)試...

2024-11-21 標(biāo)簽：設(shè)備試驗(yàn)箱老化測(cè)試 455 0

A2B車載功放老化測(cè)試

A2B技術(shù)作為一種高帶寬、低延遲的音頻總線解決方案，被廣泛應(yīng)用于汽車音頻系統(tǒng)中，車載功放是其中一個(gè)關(guān)鍵組件，其性能穩(wěn)定性和可靠性直接影響到整個(gè)音頻系統(tǒng)的...

2024-06-05 標(biāo)簽：車載功放老化測(cè)試 843 0

Burn-In測(cè)試你又明白多少呢？

Burn-In測(cè)試你又明白多少呢？ burn-in測(cè)試，中文名老化測(cè)試，指的就是在產(chǎn)品出廠之前先進(jìn)行高負(fù)荷的使用讓其渡過故障高發(fā)頻率，讓其到達(dá)客戶手中能...

2024-01-12 標(biāo)簽：測(cè)試故障老化測(cè)試 1.0萬 0

電子產(chǎn)品高溫老化測(cè)試——高溫老化試驗(yàn)箱

高溫老化測(cè)試，就如同電子產(chǎn)品的“煉獄”之旅。在這個(gè)過程中，產(chǎn)品被放置在一個(gè)模擬高溫惡劣環(huán)境的特殊設(shè)備——高溫老化試驗(yàn)箱中。試驗(yàn)箱能夠精確地控制溫度和濕度...

2023-12-22 標(biāo)簽：試驗(yàn)箱測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品測(cè)試 1789 0

IC出廠前為什么要做加速老化測(cè)試？

隨著芯片進(jìn)入汽車，云計(jì)算和工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)的市場(chǎng)，IC的可靠性也成為開發(fā)人員關(guān)注的點(diǎn)，事實(shí)也證明，隨著時(shí)間推移，芯片想要達(dá)到目標(biāo)的功能也會(huì)變得越來越難實(shí)現(xiàn)。 ...

2023-07-25 標(biāo)簽：IC老化測(cè)試 1171 0

電子產(chǎn)品的老化測(cè)試的意義

老化測(cè)試最終的目的是預(yù)測(cè)產(chǎn)品的使用壽命，為生產(chǎn)商評(píng)估或預(yù)測(cè)試所生產(chǎn)的產(chǎn)品耐用性的好壞！

2023-07-04 標(biāo)簽：電子產(chǎn)品老化測(cè)試 2612 0