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標(biāo)簽 > 老化測(cè)試
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電子元器件老化測(cè)試項(xiàng)目及注意事項(xiàng)
在電子產(chǎn)品在加工過(guò)程中,由于經(jīng)歷了復(fù)雜的加工和元器件物料的大量使用,無(wú)論是加工缺陷還是元器件缺陷,都可分為明顯缺陷和潛在缺陷,明顯缺陷指那些導(dǎo)致產(chǎn)品不能...
如何進(jìn)行CAN通信設(shè)備的批量老化測(cè)試
老化測(cè)試是產(chǎn)品生產(chǎn)中必不可少的環(huán)節(jié),對(duì)于CAN通信設(shè)備如何進(jìn)行批量高效的老化測(cè)試呢?本文將從成本及方案優(yōu)化兩方面簡(jiǎn)述測(cè)試方法。
2018-08-08 標(biāo)簽:CAN通信老化測(cè)試致遠(yuǎn)電子 8378 0
基于LabVIEW的三極管老化測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
電子元器件的老化測(cè)試就是仿照或者等效產(chǎn)品的使用狀態(tài),通過(guò)測(cè)試,將不符合器件剔除,將電子產(chǎn)品的質(zhì)量在加工初期進(jìn)行有效地控制,以保證電子產(chǎn)品使用的可靠性和穩(wěn)...
LED照明產(chǎn)品的老化試驗(yàn)是一個(gè)非常重要的測(cè)試,通過(guò)老化測(cè)試可以及早發(fā)現(xiàn)LED 產(chǎn)品在長(zhǎng)期使用中可能產(chǎn)生的故障。本文所介紹的一種LED 老化測(cè)試方案,主要...
芯片老化試驗(yàn)是一種對(duì)芯片進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行和負(fù)載測(cè)試的方法,以模擬芯片在實(shí)際使用中的老化情況。1.目的:芯片老化試驗(yàn)的目的是評(píng)估芯片在長(zhǎng)時(shí)間使用和負(fù)載情況下...
LED(發(fā)光二極管)因其高效能和長(zhǎng)壽命,廣泛應(yīng)用于照明、顯示和信號(hào)等領(lǐng)域。然而,為了確保LED在實(shí)際應(yīng)用中的可靠性和穩(wěn)定性,進(jìn)行老化測(cè)試是不可或缺的一步...
2024-10-26 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱測(cè)試設(shè)備老化 1873 0
普賽斯儀表 | 創(chuàng)新技術(shù)突破,激光器老化測(cè)試系統(tǒng)解決方案
大功率激光器在光束質(zhì)量、工作效率、結(jié)構(gòu)體積、壽命和系統(tǒng)維護(hù)等方面具有明顯的優(yōu)勢(shì)。但與此同時(shí),由于單顆芯片出光功率大,單位面積產(chǎn)生的熱量大,如果不做好散熱...
紫外(UV)老化測(cè)試:7個(gè)關(guān)鍵問(wèn)題解析
紫外線對(duì)產(chǎn)品的影響在自然界中,陽(yáng)光中的紫外線是導(dǎo)致產(chǎn)品光降解和光老化的主要原因。這種無(wú)形的輻射不僅對(duì)人體健康構(gòu)成威脅,對(duì)產(chǎn)品的損害同樣不容忽視。產(chǎn)品或材...
老化試驗(yàn)箱:加速集成電路壽命評(píng)估的關(guān)鍵設(shè)備與技術(shù)全覽
在集成電路研發(fā)中,傳統(tǒng)自然老化測(cè)試需耗時(shí)數(shù)年,無(wú)法匹配產(chǎn)品快速迭代需求。老化試驗(yàn)箱通過(guò)模擬高溫、高濕、紫外輻照等極端環(huán)境,將數(shù)年老化過(guò)程壓縮至數(shù)百小時(shí),...
2025-03-08 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱老化測(cè)試試驗(yàn)設(shè)備 772 0
艾德克斯IT2700在電源管理芯片老化測(cè)試中的應(yīng)用
在半導(dǎo)體領(lǐng)域,電源管理芯片老化測(cè)試是評(píng)估器件可靠性和篩選潛在缺陷的重要環(huán)節(jié),通過(guò)模擬極端工況加速芯片老化以暴露材料、工藝或設(shè)計(jì)中的薄弱點(diǎn)。隨著電子設(shè)備的...
隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步,新型功率器件如碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)因其優(yōu)異的性能被廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。然而,這些器件在長(zhǎng)期連續(xù)使用后會(huì)出現(xiàn)老化現(xiàn)...
工廠老化測(cè)試解決方案:GCOM80-2NET-E如何賦能智能制造
老化測(cè)試是產(chǎn)品質(zhì)量把控的關(guān)鍵,但傳統(tǒng)方式效率低、成本高。GCOM80-2NET-E通過(guò)智能協(xié)議解析、多設(shè)備兼容和數(shù)據(jù)輕量化,大幅提升測(cè)試效率,縮短周期,...
在自然界中,產(chǎn)品經(jīng)常遭受光照的影響,尤其是太陽(yáng)光中的紫外線(UV),結(jié)合溫度和濕度的變化,可能導(dǎo)致產(chǎn)品性能下降、表面裂紋、脫落、色澤變暗、變色、粉化等老...
高溫老化試驗(yàn)房作為一種重要的測(cè)試設(shè)備,廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空航天等行業(yè),用于評(píng)估材料和組件在高溫環(huán)境下的性能和可靠性。然而,在使用過(guò)程中,試驗(yàn)房可能...
2024-10-26 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱測(cè)試設(shè)備老化測(cè)試 477 0
高分子材料老化現(xiàn)象高分子材料在其整個(gè)生命周期,包括合成、貯存、加工以及最終應(yīng)用階段,都面臨著變質(zhì)的風(fēng)險(xiǎn),這種變質(zhì)表現(xiàn)為材料性能的惡化。具體而言,可能出現(xiàn)...
臭氧老化試驗(yàn)箱:材料老化測(cè)試的關(guān)鍵設(shè)備
在材料科學(xué)領(lǐng)域,臭氧老化試驗(yàn)箱是一種至關(guān)重要的設(shè)備,用于評(píng)估材料在臭氧環(huán)境下的老化性能。臭氧作為一種強(qiáng)氧化劑,能與許多材料發(fā)生化學(xué)反應(yīng),加速其老化過(guò)程,...
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